品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
勞厄單晶取向測試系統(tǒng):
- 背散射勞厄測試系統(tǒng),實時確定晶體方向,精度高達0.1度;
- PSEL 軟件定向誤差低至 0.05度;
- 多晶硅片二維定向mapping;
- 大批量樣品篩選;
- 超20kg重負荷樣品定位
水平放置系統(tǒng)
特征 | 優(yōu)點 |
<200um 光束尺寸 | 可測量小 晶體 |
電動位移臺 | 可沿生長軸軸向掃描 |
電動角位移 | 與同步加速器/中子設(shè)備直接兼容 |
手動角位移 | 與切割刀具直接兼容 |
垂直放置系統(tǒng)
特征 | 優(yōu)點 |
<200um 光斑 | 適用于小晶粒的多晶結(jié)構(gòu) |
大范圍電動線性掃描位移臺 | 允許自動晶圓mapping或多個樣品 |
電動Z 軸驅(qū)動 | 適用大尺寸晶棒或樣品 |
手動角位移 | 允許定位到+/- 0.02度精度 |
配備PSEL CCD 背反射勞厄X-RAY 探測器:
- 有效輸入探測面約: 155*105 mm
- 小輸入有效像素尺寸83um,1867*1265 像素陣列
- 可選曝光時間從1ms 到35分鐘
- 芯片上像素疊加允許以犧牲分辨率為代價增強靈敏度
- 自動背景扣除模式
- 16位高精度采集模式
- 12位快速預(yù)覽模式
- PSEL 勞厄影像采集處理專業(yè)軟件
勞厄影像校準軟件:
- 自動檢測衍射斑點,并根據(jù)參考晶體計算斑點位置;
- 根據(jù)測角儀和晶體軸自動計算定向誤差(不需要手動擬合扭曲的圖形)
- 以CSV格式保存角度測量值,以進一步保證質(zhì)量的可追溯性;
- 頂部到底部的終端用戶菜單,允許資深結(jié)晶學用戶自行逐步確認定位程序;
- 基于Python的軟件,允許使用套接字命令對現(xiàn)有軟件/系統(tǒng)進行遠程訪問控制;
系統(tǒng)附件包括:
- 勞厄X-RAY 探測器
- 勞厄校準軟件
- 高亮度X-RAY 發(fā)生器
- 電動/手動 角位移臺& 高精度位移臺;
- 樣本定位/視頻監(jiān)控 攝像頭;
- 激光距離傳感器/操縱桿
典型勞厄衍射應(yīng)用圖樣:
勞厄單晶取向測試系統(tǒng)應(yīng)用方向:
- 探測器材料: HgCdTe/CdTe, InGaAs, InSb;
- 窗口玻璃材料&壓電/鐵電陶瓷: Al2O3, Quantz,LiNbO3
- 金屬合金: 鎢,鉬,鎳基合金;
- 激光晶體材料: YAG, KTP, GaAs
- 薄膜/半導體基地材料: AIN, InP SiC;
- 磁性&超導材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe, NbSn/NbTi
- 閃爍體材料: BGO/LYSO, CdWO4, BaF2/CaF2;