MCP探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)

l 高速度：電子在微通道板內(nèi)的渡越時(shí)間為百皮秒量級(jí)，而渡越時(shí)間的抖動(dòng)更是遠(yuǎn)小于納秒。和PMT類(lèi)探測(cè)器相比，MCP探測(cè)器的響應(yīng)時(shí)間快1 ～2個(gè)數(shù)量級(jí)；而固體（半導(dǎo)體）探測(cè)器要達(dá)到亞納秒的響應(yīng)時(shí)間，其管芯尺度會(huì)非常小。

l 低噪聲/高靈敏度：在1cm²面積上，每秒鐘只有2-3個(gè)暗計(jì)數(shù)；而高增益使得探測(cè)器輸出足夠大的電流/發(fā)光，足可克服后續(xù)收集系統(tǒng)的本地噪聲。

l 抗干擾：相對(duì)于PMT，MCP受磁場(chǎng)的影響非常小，通常不需要磁屏蔽。

l 靈活性：MCP是二維電子放大器件，通過(guò)不同的配置可以實(shí)現(xiàn)成像，大面積單點(diǎn)探測(cè)，位置及時(shí)間分辨的計(jì)數(shù)，多點(diǎn)并行讀出等；針對(duì)一些特殊應(yīng)用，MCP甚至可以切割成方形、六邊形等形狀，方便拼接。